アプリケーション

研究開発を進めるうえでのお困りごとはございませんか？
サイエンスエッジの最新アプリケーションから、あなたに最適なソリューションを見つけてください。

  • Materials science research
  • MSR001-IFCF-20250821-001-JP

公開日：2025年9月5日 

周波数領域サーモリフレクタンス顕微鏡を用いた単一の放熱フィラー粒子の熱伝導率計測

  • キーワード
  • セラミックス
  • 熱伝導フィラー粒子
  • アルミナ
  • 窒化アルミニウム
  • 周波数領域サーモリフレクタンス法
  • InFocus κ FDTR

熱伝導性複合材料に充填される放熱フィラーは数十μm以下の粒子で、その熱伝導率は粒径や構造によって低減すると考えられます。ここでは、当社のサーモリフレクタンス顕微鏡を用いて、最小粒径５μm の粒子の熱伝導率評価を試みました。その結果、焼結体の熱伝導率は構成粒子サイズによって制限される一方で、熱輸送は焼結体があたかも連続体であるかのように行われていることが確認されました。

記事を読む 
PDFをダウンロードする 


  • Biophysics
  • BPS001-IFDS-20240322-001-JP

公開日：2024年3月22日 

ポリマー被覆銀ナノ粒子によるプラズモン増強散乱光および表面プラズモン励起増強蛍光の分光分析

  • キーワード
  • バイオセンサー
  • 銀ナノ粒子
  • 表面プラズモン増強散乱光
  • 表面プラズモン励起増強蛍光
  • 暗視野顕微鏡
  • InFocus λ DS

金属ナノ粒子を用いたプラズモンバイオセンサーの開発において、ナノ構造を観察するための暗視野顕微鏡および光学応答を調べるための分光装置は欠かせません。ここでは、両機能を兼ね備えた暗視野分光イメージング顕微鏡を用いて、ポリマー被覆銀ナノ粒子による表面プラズモン増強散乱光や表面プラズモン励起増強蛍光を分光分析した事例をご紹介します。

記事を読む 
PDFをダウンロードする 


  • Semiconductor & nanotechnology
  • SEN001-IFCF-20230315-001-JP

公開日：2023年3月24日 

周波数領域サーモリフレクタンス法を用いたアモルファス Ge1-xSnx 薄膜の熱伝導率の測定

  • キーワード
  • 半導体
  • ナノテクノロジー
  • 周波数領域サーモリフレクタンス法
  • InFocus κ FDTR

Sn 組成の異なるアモルファス Ge1-xSnx 薄膜の熱伝導率を周波数領域サーモリフレクタンス法（FDTR）を用いて測定しました。その結果、アモルファス Ge1-xSnx 薄膜の熱伝導率は Sn組成が６％から 13%へ増加するにつれて 0.50 W/mK から 0.44 W/mK に減少し、最小熱伝導率モデルで計算されるアモルファス限界値とよく合致する傾向を示すことが分かりました。

記事を読む 
PDFをダウンロードする